ترجمه مقالات

دانلود مقالات ترجمه شده و دریافت رایگان متون انگلیسی

ترجمه مقالات

دانلود مقالات ترجمه شده و دریافت رایگان متون انگلیسی

وب دانلود رایگان مقالات انگلیسی و خرید ترجمه مقالات
کلمات کلیدی

دانلود ترجمه مقالات بازاریابی

تجارت

مقاله ترجمه شده مکانیک

مقاله در مورد تجارت الکترونیک

مقاله انگلیسی رضایت مشتری

مقاله درباره تولید پراکنده (DG)

مبدل منبع ولتاژ

مقاله در مورد سفته باز

مقاله در خصوص بنیادگرایان

مقاله انگلیسی حباب احتکار

مقاله انگلیسی بازارهای کارا

بانکداری و امور مالی

مقاله در مورد تحقیقات بتزاریابی آسیا

مقاله انگلیسی جهانی سازی

دانلود مقاله در مورد رفتار مصرف کننده

دانلود مقاله تحقیقات بازاریابی بین المللی

مقاله روابط کاهندگی موج برشی و ویسکوزیته گوشته

مقاله درباره توموگرافی امواج سطحی

مقاله در خصوص درجه حرارت گوشته

دانلود مقاله ضخامت لایه لیتوسفر

ترجمه مقالات زمین شناسی

مقاله درباره رضایت مالیات دهنده

مقاله در خصوص تحلیل عامل درجه دوم

مقاله انگلیسی کیفیت اطلاعات

دانلود کیفیت سیستم

دانلود مقاله سیستم ثبت مالیات آنلاین

مقاله درباره اجرای عملیاتی

مقاله در خصوص مطالعه رویداد

مقاله انگلیسی برون سپاری منابع انسانی اداری

مدیریت منابع انسانی

دانلود ترجمه مقاله مبحث های نوین زیرآستانه ای در فناوری نیمه هادى اکسید فلزى تکمیلى ۶۵ نانومتری

عنوان ترجمه فایل فارسی: مباحث جدید زیرآستانه ای در فناوری نیمه هادى اکسید فلزى تکمیلى ۶۵ نانومتری.
عنوان نسخه انگلیسی: New Subthreshold Concepts in 65nm CMOS Technology
مرتبط با رشته های : برق و الکترونیک
تعداد صفحات مقاله فارسی: ۱۶ صفحه
این فایل ترجمه شده به صورت ورد word می باشد و دارای امکان ویرایش هست.
و دریافت رایگان متون لاتین در قسمت پایین با فرمت pdf آمده دانلود است
قسمتی از متن انگلیسی:
۱٫ Introduction
In the last few years, large efforts have been made in research and development on low energy circuits for battery operated wireless sensor nodes. Recently a number of papers reporting ADC’s utilizing time-domain instead of amplitude domain have been reported [1]-[4]. This class of converters may be built entirely of digital components, but this would put strict requirements on the comparator and sampling circuitry. To meet these requirements low power and high speed flip-flops with a sufficiently low possibility for metastability must be designed. Recently, as we approach atomic scale devices, leakage currents have increased dramatically, leading to higher static power dissipation. Therefore, leakage must be taken into consideration when evaluating these circuits since it has become a significant contributor to the overall power consumption in deepsubmicron CMOS processes
جهت مشاهده ادامه بر روی متن زیر کلیک نمایید.

دانلود ترجمه مقاله مبحث های نوین زیرآستانه ای در فناوری نیمه هادى اکسید فلزى تکمیلى ۶۵ نانومتری