ترجمه مقالات

دانلود مقالات ترجمه شده و دریافت رایگان متون انگلیسی

ترجمه مقالات

دانلود مقالات ترجمه شده و دریافت رایگان متون انگلیسی

وب دانلود رایگان مقالات انگلیسی و خرید ترجمه مقالات
کلمات کلیدی

دانلود ترجمه مقالات بازاریابی

تجارت

مقاله ترجمه شده مکانیک

مقاله در مورد تجارت الکترونیک

مقاله انگلیسی رضایت مشتری

مقاله درباره تولید پراکنده (DG)

مبدل منبع ولتاژ

مقاله در مورد سفته باز

مقاله در خصوص بنیادگرایان

مقاله انگلیسی حباب احتکار

مقاله انگلیسی بازارهای کارا

بانکداری و امور مالی

مقاله در مورد تحقیقات بتزاریابی آسیا

مقاله انگلیسی جهانی سازی

دانلود مقاله در مورد رفتار مصرف کننده

دانلود مقاله تحقیقات بازاریابی بین المللی

مقاله روابط کاهندگی موج برشی و ویسکوزیته گوشته

مقاله درباره توموگرافی امواج سطحی

مقاله در خصوص درجه حرارت گوشته

دانلود مقاله ضخامت لایه لیتوسفر

ترجمه مقالات زمین شناسی

مقاله درباره رضایت مالیات دهنده

مقاله در خصوص تحلیل عامل درجه دوم

مقاله انگلیسی کیفیت اطلاعات

دانلود کیفیت سیستم

دانلود مقاله سیستم ثبت مالیات آنلاین

مقاله درباره اجرای عملیاتی

مقاله در خصوص مطالعه رویداد

مقاله انگلیسی برون سپاری منابع انسانی اداری

مدیریت منابع انسانی

دانلود ترجمه مقاله لکتور: شیوه ای جهت کم شدن نشت در مدارات نیمه هادى اکسید فلزى تکمیلى

عنوان ترجمه فایل فارسی: لکتور: روشی برای کاهش نشتی در مدارات نیمه هادى اکسید فلزى تکمیلى.
عنوان نسخه انگلیسی: LECTOR: A Technique for Leakage Reduction in CMOS Circuits
مرتبط با رشته های : برق و الکترونیک
تعداد صفحات مقاله فارسی: ۳۲ صفحه
این فایل ترجمه شده به صورت ورد word می باشد و دارای امکان ویرایش هست.
و دریافت رایگان متون لاتین در قسمت پایین با فرمت pdf آمده دانلود است.

P OWER dissipation is an important consideration in the design of CMOS VLSI circuits. High power consumption leads to reduction in the battery life in the case of battery-powered applications and affects reliability, packaging, and cooling costs. The main sources for power dissipation are: 1) capacitive power dissipation due to the charging and discharging of the load capacitance; 2) short-circuit currents due to the existence of a conducting path between the voltage supply and ground for the brief period during which a logic gate makes a transition; and 3) leakage current. The leakage current consists of reverse-bias diode currents and subthreshold currents. The former is due to the stored charge between the drain and bulk of active transistors while the latter is due to the carrier diffusion between the source and drain of the OFF transistors


جهت مشاهده ادامه بر روی متن زیر کلیک نمایید.

دانلود ترجمه مقاله لکتور: شیوه ای جهت کم شدن نشت در مدارات نیمه هادى اکسید فلزى تکمیلى