عنوان اصلی لاتین مقاله: Fault tolerance and reliability in fieldprogrammable gate arrays
عنوان اصلی نسخه فارسی : قابلیت اطمینان و تحمل پذیری در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
مرتبط با رشته های : فناوری اطلاعات - کامپیوتر
فرمت فایل ترجمه شده: WORD (قابل ویرایش)
تعداد صفحات فایل ترجمه شده: 30
جهت دانلود رایگان نسخه انگلیسی این مقاله اینجا کلیک نمایید
ترجمه ی سلیس و روان مقاله آماده ی خرید می باشد.
برای دانلود رایگان بخشی از محصول اینجا کلیک کنید
_______________________________________
چکیده ترجمه:
کاهش
قابلیت اطمینان در سطح دستگاه و افزایش تنوع در پروسه های within-die را
می توان از مباحث بسیار مهم برای آرایه های درگاه با قابلیت برنامه
ریزی-فیلد(FPGA) دانست که منجر به توسعه ی پویای خطاها در طول چرخه ی عمر
مدار ادغام یافته میشود. خوشبختانه، FPGA ها توانایی پیکربندی مجدد در
فیلد را در زمان اجرا دارند و از ان رو فرصت هایی را به منظور غلبه بر چنین
خطاهایی فراهم می سازند. این طالعه یک بررسی جامع بر روی متد های تشخیص
خطا و شِماهای تحمل پذیری در برابر خطا را برای FPGA ها و تنزل دستگاه ها و
با هدف ایجاد یک مبنای قوی برای پژوهش های آینده در این حوزه ارائه میدهد.
همه ی متد ها و شِماها از نظر کمی مقایسه شده اند و بعضی از آنها نیز مورد
تأکید قرار گرفته اند.
واژگان کلیدی: قابلیت اطمینان، تحمل پذیری در برابر خطا، درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
جهت دانلود محصول اینجا کلیک نمایید
قسمتی از متن انگلیسی
3 Fault detection The first function to take place in a fault-tolerant scheme is fault detection. Fault detection has two purposes; firstly, it alerts the supervising process that action needs to be taken for the system to remain operational and secondly, it identifies which components of the device are defective so that a solution can be determined. These two functions may be covered simultaneously, or it may be a multi-stage process comprised of different strategies.
